問題４２第１回日本核医学専門技師認定試験問題午前：択一式（１）

　問題４２．散乱補正で誤っているのはどれか。２つ選べ。

１． TEW法ではピクセル毎の補正が可能である。
２． TEW法では収集カウントが低いと信号成分も除去される
。 ３． TDCS法は視野外からの透過型散乱線にも有効である。
４． TDCS法はTEW法に比べ収集カウントの低下が少ない。
５． 散乱補正の効果判定には濃度直線性が有効である。

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　第１回日本核医学専門技師認定試験問題

　問題４２．散乱補正で誤っているのはどれか。２つ選べ。
従来は最高カウントに対するカットオフ法
１． TEW法ではピクセル毎の補正が可能である。
○： 　従来は最高カウントに対するカットオフ法
信号成分であれば低い収集カウント値でも除去されることがない
２． TEW法では収集カウントが低いと信号成分も除去される
。 　×：
　信号成分であれば低い収集カウント値でも除去されることがない
３． TDCS法は視野外からの透過型散乱線にも有効である。
　？：問題の意味不明です
　散乱応答関数と外部線源法で求めるもので不均一吸収体にも利用できる
４． TDCS法はTEW法に比べ収集カウントの低下が少ない。
　？：
　低下が少ないかの特徴比較について論じた者を目にした事がない
５． 散乱補正の効果判定には濃度直線性が有効である。
　○：
　この問題の参照本
　放射線医療技術学叢書(19)SPCT画像技術の基礎

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